使用(yong)單物(wu)鏡(jing)主動式(shi)(shi)相位掃(sao)描3D測量技術(shu),觀察和測量使用(yong)同一個鏡(jing)頭即(ji)可,即(ji):在發(fa)現(xian)缺陷(xian)后,可以直接拍照獲取測量用(yong)的(de)圖片,注意探頭端(duan)部(bu)要盡量靠近待測表面,拍攝(she)圖像能夠清晰(xi)顯示缺陷(xian)始(shi)末(mo),然后根據缺陷(xian)類型選擇合適的(de)測量方式(shi)(shi)。下面我(wo)們介紹本文的(de)重點(dian)(dian):通過點(dian)(dian)云(yun)圖確定放置(zhi)光標點(dian)(dian)的(de)有效性(xing)。
缺陷測量不(bu)管選用(yong)(yong)哪種測量方式,需要在(zai)特(te)(te)征位置處(chu)放(fang)(fang)置光(guang)(guang)標點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian),例(li)如(ru):測量裂(lie)(lie)紋長度(du),可以(yi)(yi)在(zai)裂(lie)(lie)紋兩端放(fang)(fang)置光(guang)(guang)標點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian),測量面積則可以(yi)(yi)用(yong)(yong)若干光(guang)(guang)標點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)圍(wei)住(zhu)待測區域。擅用(yong)(yong)點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)云(yun)圖和點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)云(yun)色度(du)深度(du)圖,可以(yi)(yi)驗證(zheng)、檢(jian)查所放(fang)(fang)置光(guang)(guang)標點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)是否正確、得當,是否因錯覺造成缺陷特(te)(te)征點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)誤(wu)判。
使用(yong)(yong)進口(kou)內窺(kui)鏡檢(jian)測某民航(hang)發(fa)(fa)動(dong)機的(de)過程中(zhong),發(fa)(fa)現葉片(pian)損傷后,檢(jian)測人(ren)員可以通過調用(yong)(yong)3D點云模(mo)型(xing),自行檢(jian)查(cha)光標點放(fang)的(de)位置是否在(zai)當前葉片(pian)上(shang)(shang)?還是放(fang)在(zai)了(le)機匣上(shang)(shang)或者附近相(xiang)鄰的(de)下(xia)一級(ji)葉片(pian)上(shang)(shang)。在(zai)下(xia)圖中(zhong)不難看出,垂(chui)線明顯不垂(chui)直(zhi)于葉片(pian)前緣(yuan),通過調用(yong)(yong)3D點云圖可以發(fa)(fa)現,確定線的(de)第二(er)點并沒有放(fang)在(zai)當前葉片(pian)上(shang)(shang),而是放(fang)在(zai)了(le)下(xia)一級(ji)的(de)轉子葉片(pian)上(shang)(shang)。檢(jian)測人(ren)員及時地糾正了(le)光標點的(de)位置,獲得了(le)準確而有效(xiao)的(de)測量結果。
使用單物鏡(jing)主(zhu)動(dong)式相(xiang)位掃描3D測(ce)量(liang)(liang)技術(shu),觀察和測(ce)量(liang)(liang)使用同一個鏡(jing)頭即(ji)可,即(ji):在發現缺(que)陷(xian)后(hou),可以直(zhi)接(jie)拍照(zhao)獲取測(ce)量(liang)(liang)用的圖片,注(zhu)意(yi)探頭端(duan)部要盡量(liang)(liang)靠近待(dai)測(ce)表面,拍攝圖像(xiang)能(neng)夠清晰顯(xian)示缺(que)陷(xian)始末,然(ran)后(hou)根據缺(que)陷(xian)類型(xing)選擇合適(shi)的測(ce)量(liang)(liang)方式。
缺(que)陷測量(liang)(liang)不管選用(yong)(yong)哪種測量(liang)(liang)方式,需要在(zai)特(te)征位置(zhi)處放(fang)置(zhi)光(guang)標點(dian),例如:測量(liang)(liang)裂紋長度(du)(du),可(ke)以(yi)在(zai)裂紋兩端放(fang)置(zhi)光(guang)標點(dian),測量(liang)(liang)面積則可(ke)以(yi)用(yong)(yong)若干光(guang)標點(dian)圍住待測區域。擅(shan)用(yong)(yong)點(dian)云圖和點(dian)云色度(du)(du)深度(du)(du)圖,可(ke)以(yi)驗證、檢(jian)查所放(fang)置(zhi)光(guang)標點(dian)是否(fou)正確、得當(dang),是否(fou)因錯(cuo)覺造(zao)成缺(que)陷特(te)征點(dian)誤(wu)判。
綜上內(nei)(nei)容就是工業內(nei)(nei)窺鏡搭載3D測(ce)量(liang)技(ji)術的優勢(shi),希望對(dui)大家有(you)幫助。